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COC產品生產老化監控與測試解決方案

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COC產品生產老化監控與測試解決方案

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方案框圖

       普賽斯電子提供COC老化監控與測試解決方案,老化采用“抽屜式”方式,夾具采用Pogo Pin方式加電,上料方式容易操作,夾具容易維護,老化與測試系統只需要搬運夾具,不需要再次上下料,老化方式靈活可選,測試精度高,一致性好,適用于生產企業大批量老化、生產、測試COC、COF、BOX等封裝的產品。

方案價值

1、極易操作:上料采用導向槽操作,對于小尺寸產品上料簡單、容易、安全

2、獨立的“抽屜式”:每個抽屜可適用于不同封裝的產品,只需要更換底部夾具,抽屜式設計確保整體溫度均勻性良好;

3、多種加熱方式:支持抽屜TEC加熱或電路板加熱方式

4、異常電源保護:內置UPS,保證異常斷電時客戶chip的安全

5、數據庫存儲:外置電腦,一套軟件監控一臺設備,過程數據存儲于本地或者服務器數據庫

6、精準LIV測試:TEC精準控溫下支持chip的LIV快速測試以及光譜測試

7、適用范圍廣:適用于COC、、COF、BOX等封裝的老化測試

方案詳情

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